Logo ifraf

Partenaires

ENS
P6
P13
P11
IO
Observatoire
CNRS


Rechercher

Sur ce site

Visiteurs connectés : 7


Accueil du site > Thématiques scientifiques > Actions thématiques transverses > Nano-Fabrication, instrumentation, Caractérisation et métrologie (NFICM)

Nano-Fabrication, instrumentation, Caractérisation et métrologie (NFICM)

Axe géré en commun par IFRAF et C’Nano

Le développement des nanosciences et des nanotechnologies nécessite de se doter d’outils capables de fabriquer de nouveaux dispositifs nano-structurés ou de nouveaux matériaux aux dimensions nanométriques, et de les caractériser à ces échelles. La production et le contrôle des échantillons vont en général de pair, une action coordonnée de grande ampleur dans ce domaine est donc cruciale. Le succès des projets présentés dans chacun des six axes « verticaux » du programme dépend souvent de la qualité de la fabrication des échantillons nanométriques. Notons que cet axe résulte du regroupement des axes « Nanocaractérisation et Instrumentation » et « Nanofabrication et Nanostructuration » du C’Nano IdF, enrichi de l’interface avec les atomes froids. Soulignons que beaucoup d’instruments de mesure à atomes froids, malgré leur complexité, commencent à être miniaturisés en vue de leur commercialisation.
Il importe donc de développer des technologies innovantes visant à fabriquer et/ou à caractériser des nanostructures et des nanomatériaux. Le DIM s’attachera à promouvoir les applications nouvelles des outils existants et à lever les verrous technologiques. Il se propose également de mutualiser les moyens technologiques disponibles en Ile-de-France en mettant au point une banque de données des installations existantes.

Tout particulièrement le domaine de la métrologie va de plus en plus faire appel aux ressources développées dans cette action transverse. Les nanosciences et les nanotechnologies vont de plus en plus se développer vers la métrologie. La nano-métrologie fait intervenir de l’instrumentation dont les retombées concernent en grande parie la caractérisation de nanostructures fabriquées par les centrales de technologie, par exemple pour les étude de toxicologie et de normalisation.

De même la métrologie à partir de dispositifs à atomes ou ions refroidis aura des besoins croissants pour des supports de dimensions de plus en plus réduites tels que puces électronique, microactivités, mini-mirroirs au bout de fibres optiques, ... Ces instruments sont destinés à des applications variées. On remarque que le domaine de la métrologie liée aux nanostructures se situe souvent à l’interface entre les milieux académique et industriel.


Bureau

  • Responsables

Dominique MAILLY
Directeur de recherche au CNRS
LPN, UPR 20 CNRS

Yannick DE WILDE
Chercheur
LOA, UMR 7587

Arnaud LANDRAGIN
SYRTE, UMR 8630

  • Membres

François René LADAN
ENS Paris

Philippe JOYEZ
CEA

Nicolas FELTIN
LNE

Odile STEPHAN
LPS, UMR 8502

Isabelle BOUCHOULE
LCFIO, UMR 8501

Noël DIMARCQ
SYRTE, UMR 8630